檢測(cè)中心

                                                                                               

檢測(cè)中心由微波暗室和天線近遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)組成，其中近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)包括：平面、柱面、球面近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)組成，測(cè)試頻率范圍1~ 40 GHz。

微波暗室尺寸12m（長(zhǎng)）×7m（寬）×7m（高）。平面近場(chǎng)掃描架尺寸4.5（m）×4.5（m），位置精度0.05mm，平面度0.05mm。近遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)臺(tái)結(jié)構(gòu)為下方位上極化。柱面方位轉(zhuǎn)臺(tái)承重200 Kg，球面/遠(yuǎn)場(chǎng)滾動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)承重20 Kg。

系統(tǒng)可以對(duì)各種天線包括饋源、喇叭、微帶天線、基站天線、反射面天線、相控陣天線、DBF天線等進(jìn)行方向圖、增益、軸比、副瓣、零深、波束寬度、前后比、不圓度、波束效率、EIRP等參數(shù)的測(cè)量和分析，獲得天線的各個(gè)切面方向圖和空間立體方向圖。系統(tǒng)支持脈沖寬度幾十納秒到幾百微秒調(diào)制范圍、具備相控陣通道校準(zhǔn)與驗(yàn)證、多通道測(cè)試、三維相位中心、自動(dòng)化腳本測(cè)試、輸出報(bào)告等功能，滿足各類天線產(chǎn)品研究、生產(chǎn)的測(cè)試/檢測(cè)需求。

       系統(tǒng)配備低噪聲放大器、功率放大器以及擴(kuò)頻模塊（40GHz-67GHz），近場(chǎng)動(dòng)態(tài)范圍≥70 dB，遠(yuǎn)場(chǎng)動(dòng)態(tài)范圍≥50 dB。

系統(tǒng)測(cè)試精度：

幅度重復(fù)測(cè)量精度：≤0.1 dB

相位重復(fù)測(cè)量精度：≤0.5°  

增益測(cè)試精度：≤0.25 dB

副瓣測(cè)試精度：≤0.5 dB@-20 dB，≤1.5 dB@-30 dB

交叉極化測(cè)試精度：≤0.5 dB@-20 dB，≤0.5 dB@-30 dB