柱面近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)

柱面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)在輻射近場(chǎng)區(qū)的柱面上采集幅相信息，這種類(lèi)型的測(cè)試系統(tǒng)適用于扇形波束和水平面為寬波束的天線。柱面近場(chǎng)采用開(kāi)口波導(dǎo)或雙極化天線作為接收探頭,并通過(guò)柱面波展開(kāi)的方式得到天線的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射方向圖。

系統(tǒng)組成：

柱面近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)包括微波暗室屏蔽和吸波 系統(tǒng)、機(jī)械子系統(tǒng)、射頻子系統(tǒng)、控制與測(cè)試軟件、數(shù)據(jù)處理軟件等。機(jī)械子系統(tǒng)主要包含掃描架、掃描架控制器、探頭極化旋轉(zhuǎn)裝置、各型號(hào)波導(dǎo)探頭。射頻子系統(tǒng)有發(fā)射、接收兩部分。

  

應(yīng)用場(chǎng)景：

基站天線測(cè)試或水平面波束較寬且垂直面較窄的天線。

主要性能指標(biāo)：

        天線增益測(cè)試；

天線方向圖：副瓣電平、波束寬度、差零深測(cè)試；

天線近場(chǎng)診斷功能測(cè)試；

多頻點(diǎn)、多通道、多波位（波束數(shù)量＞5萬(wàn)個(gè)）測(cè)試功能；

相控陣通道校準(zhǔn)、脈沖測(cè)試、DBF測(cè)試。

測(cè)試誤差：

增益測(cè)量誤差≤±0.3dB（不含標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭自身誤差）

-20dB副瓣時(shí)≤±0.8dB

-30dB副瓣時(shí)≤±2dB

-40dB副瓣時(shí)≤±3dB

幅度精度（RMS）：0.1dB；

相位精度（RMS）：1°；

  

                                           基站天線近場(chǎng)三維圖                                             基站天線遠(yuǎn)場(chǎng)三維圖

  

     基站口面場(chǎng)反演